Thiết bị dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha VEO

Thiết bị dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha VEO ứng dụng kiểm tra khuyết tật đường hàn, dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công, bồn áp lực…công nghệ mới, hoạt động bằng pin khỏe phù hợp với mọi công trường khắc nghiệt nhất.
Máy kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha (phased array) hay còn gọi là siêu âm dãy tổ hợp pha được ứng dụng rộng rãi trong kiểm tra khuyết tật đường hàn, dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công, kiểm tra ăn mòn đường ống, bồn áp lực… với tốc độ kiểm tra nhanh chóng, hiển thị hình ảnh trực quan sinh động và chính xác.

THÔNG TIN SẢN PHẨM / DỊCH VỤ

Thiết bị dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha VEO
Máy kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha ứng dụng kiểm tra khuyết tật đường hàn, dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công, bồn áp lực… công nghệ mới, hoạt động bằng pin khỏe phù hợp với mọi công trường khắc nghiệt nhất.
Ứng dụng: máy kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha (phased array) hay còn gọi là siêu âm dãy tổ hợp pha được ứng dụng rộng rãi trong kiểm tra khuyết tật đường hàn, dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công, kiểm tra ăn mòn đường ống, bồn áp lực… với tốc độ kiểm tra nhanh chóng, hiển thị hình ảnh trực quan sinh động và chính xác.

Nguyên lý hoạt động của siêu âm phased array
Siêu âm mảng điều pha sử dụng đầu dò dãy tổ hợp pha thường bao gồm từ 16 đến 256 biến tử nhỏ riêng biệt, mỗi biến tử có thể tạo xung riêng rẽ. Chúng có thể được sắp đặt theo dải, vòng tròn, hoặc có hình dạng phức tạp hơn. Cũng như đối với đầu dò thông thường, các đầu dò dãy tổ hợp pha có thể được thiết kế cho sử dụng tiếp xúc trực tiếp, hoặc kết nối với phần nêm để tạo các đầu dò góc, hoặc sử dụng cho kỹ thuật nhúng với sóng âm truyền qua nước tới chi tiết kiểm tra. Tần số đầu dò thường nằm trong dải từ 2 MHz đến 10 MHz. Hệ thống dãy tổ hợp pha cũng bao gồm thiết bị máy tính tinh vi có khả năng điều khiển đầu dò đa biến tử, thu nhận và số hóa xung quay trở lại và biểu diễn thông tin của xung trên các khổ tiêu chuẩn khác nhau. Không giống như các thiết bị dò khuyết tật siêu âm thông thường, Hệ thống dãy tổ hợp pha có thể quét chùm tia dưới cả dải góc khúc xạ hoặc theo dọc theo đường thẳng, hoặc hội tụ ở những độ sâu khác nhau, do đó tăng tính linh hoạt và khả năng trong thiết lập kiểm tra.

Hệ thống dãy tổ hợp pha sử dụng nguyên tắc vật lý của sóng để tạo pha, thay đổi thời gian phát giữa các xung siêu âm từ các phần tử theo cách sao cho từng mặt sóng tạo bởi mỗi từng biến tử của dãy kết hợp với nhau để tăng thêm hoặc triệt tiêu năng lượng theo chiều có thể dự đoán để hướng và tạo hình dạng cho chùm tia một cách hiệu quả. Nó được thực hiện bởi dao động của các biến tử đầu dò ở những thời gian khác nhau chút ít. Thường thường các biến tử sẽ bị dao động theo nhóm từ 4 đến 32 để tăng độ nhạy một cách hiệu quả bằng cách giảm độ mở chùm tia không mong muốn và có thể hội tụ sắc nét hơn. Phần mềm sử dụng các định luật về hội tụ để thiết lập thời gian trễ phát xung cho từng nhóm các biến tử nhằm tạo ra chùm tia có hình dạng như mong muốn phù hợp với khả năng của đầu dò, đặc tính của phần nêm cũng như kích thước hình học và tính chất âm của vật liệu kiểm tra. Chuỗi xung được lập trình chọn bởi phần mềm hoạt động của thiết bị sau đó từng sóng âm đó được đưa vào vật liệu kiểm tra. Những sóng âm đó sẽ kết hợp với nhau tăng thêm hoặc triệt tiêu để tạo thành một sóng đơn sơ cấp truyền qua vật liệu kiểm tra và phản xạ lại từ các vết nứt, bất liên tục, mặt đáy và các mặt phân cách khác như sóng siêu âm thông thường. Chùm tia có thể được hướng theo các góc, tiêu cự, kích thước tiêu điểm khác nhau theo cách mà một đầu dò đơn có khả năng kiểm tra vật liệu với các phối cảnh khác nhau. Sự hướng chùm tia xảy ra rất nhanh nên quét với nhiều góc hoặc độ sâu hội tụ khác nhau có thể thực hiện trong một phần nhỏ của giây. Xung phản xạ lại được thu bởi các biến tử khác nhau hoặc nhóm các biến tử và thời gian được thay đổi cần thiết cho sự thay đổi của phần trễ sau đó tổng hợp lại. Không giống như đầu dò một biến tử siêu âm thông thường hợp nhất tất cả thành phần chùm tia đập vào biến tử, đầu dò dãy tổ hợp pha có thể chọn những sóng âm phản xạ về theo thời gian và biên độ tại mỗi biến tử. Khi phần mềm của thiết bị đã xử lý, thông tin sẽ được hiển thị trên bất kì dạng nào.

Sonatest VEO – Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha cấp cao​
  • Cấu hình Phased Array 16: 64 và 16:128
  • Tích hợp kỹ thuật kiểm tra đối đầu dò TOFD
  • Hiển thị hình ảnh chất lượng cao
  • Ghi dữ liệu toàn diện
  • Các ảnh quét mã hóa nhanh
  • Nhiều kỹ thuật quét
  • Kiểm tra UT & PA đồng thời
  • Tính toán tiêu cự tức thời
  • Tạo báo cáo dễ dàng
  • Vỏ ngoài chuẩn IP65
  • Các đồ thuật hiệu chuẩn
  • Tính năng 3D Scanplan
  • Cơ sở dữ liệu đầu dò & nêm đầu dò
  • Tính năng TCG và DAC
  • Kiến trúc 16 bit
  • Chiều dài quét không hạn chế
  • Kích cỡ file lưu lớn (2GB)
  • Kho lưu dữ liệu USB
Thiết bị siêu âm Phased Array mạnh mẽ và tính năng kỹ thuật cao
Thiết bị dò khuyết tật siêu âm Phased Array veo làm tăng tiếng tăm của Sonatest trong sự phát triển sản phẩm hướng kỹ thuật mới. Sự điều khiển dễ dàng của veo, đặc tính máy cao cấp, tính năng tiên tiến và thiết bị chắc chắn đã mang đến sự đơn giản, tương thích và tin cậy cho ngón tay người làm kỹ thuật.

Kỹ thuật siêu âm Phased Array đã trở thành một phương pháp kiểm tra NDT tiên tiến. Kỹ thuật Phased Array cho phép người sử dụng điều khiển các tham số chẳng hạn như góc chùm tia siêu âm và khoảng cách tiêu cự để tạo ra ảnh của phần tử kiểm tra, nâng cao khả năng dò khuyết tật và tăng tốc độ kiểm tra. Thêm nữa, với việc sử dụng công nghệ máy tính tiên tiến, dữ liệu có thể được ghi lưu trữ lâu dài cho quá trình xử lý và tạo báo cáo. Thiết kế chắc chắn của veo, giao diện người dùng thân thiện và trợ giúp trực tuyến đã mang sức mạnh của kỹ thuật Phased Array cho kỹ thuật viên hiện trường. Các ứng dụng điển hình gồm: kiểm tra mối hàn, biểu đồ hóa sự gặm mòn, kiểm tra trong lĩnh vực hàng không và kiểm tra vật liệu hỗn hợp composite.

Thiết bị mạnh mẽ & tính năng kỹ thuật cao
Thiết bị dò khuyết tật siêu âm Phased Array veo làm tăng tiếng tăm của Sonatest trong sự phát triển sản phẩm hướng kỹ thuật mới. Sự điều khiển dễ dàng của veo, đặc tính máy cao cấp, tính năng tiên tiến và thiết bị chắc chắn đã mang đến sự đơn giản, tương thích và tin cậy cho ngón tay người làm kỹ thuật.
Kỹ thuật siêu âm Phased Array đã trở thành một phương pháp kiểm tra NDT tiên tiến. Kỹ thuật Phased Array cho phép người sử dụng điều khiển các tham số chẳng hạn như góc chùm tia siêu âm và khoảng cách tiêu cự để tạo ra ảnh của phần tử kiểm tra, nâng cao khả năng dò khuyết tật và tăng tốc độ kiểm tra. Thêm nữa, với việc sử dụng công nghệ máy tính tiên tiến, dữ liệu có thể được ghi lưu trữ lâu dài cho quá trình xử lý và tạo báo cáo. Thiết kế chắc chắn của veo, giao diện người dùng thân thiện và trợ giúp trực tuyến đã mang sức mạnh của kỹ thuật Phased Array cho kỹ thuật viên hiện trường. Các ứng dụng điển hình gồm: kiểm tra mối hàn, biểu đồ hóa sự gặm mòn, kiểm tra trong lĩnh vực hàng không và kiểm tra vật liệu hỗn hợp composit
Sử dụng đơn giản
Hệ menu tương tác ứng dụng và thao tác làm việc, với việc thiết đặt và thao tác trở nên nhanh chóng. Các tính năng Trợ giúp và Đồ thuật được tích hợp hướng dẫn người sử dụng thiết lập tác vụ dò quét và các gợi ý hướng dẫn nhằm đảm bảo veo luôn vận hành ở mức độ cao nhất. Giao diện mô hình quét 3D Scanplan giúp quan sát tức thời cho các cấu hình thiết lập và sự truyền sóng siêu âm trong vật liệu, kể trong các ứng dụng sử dụng nhiều đầu dò quét phức tạp.
Các đồ thuật thiết đặt các tham số tốc độ âm, trễ nêm đầu dò, TCG, DAC, TOFD nhanh và hiệu quả và hiệu chuẩn bộ mã hóa được cung cấp như là tiêu chuẩn. Trạng thái hiệu chuẩn được chỉ thị rõ trên màn hình thông quá hệ đèn hiệu đơn giản, để người vận hành có thể chắc chắn rằng veo đã được hiệu chuẩn cho tác vụ kiểm tra khuyết tật.
Menu duyệt sử dụng bánh xe cuộn thế hệ thứ hai của Sonatest giúp chọn nhanh các tham số, các phím tắt truy cập đến các chức năng và ký tự sử dụng thường xuyên. Các phím Start, Stop và Record quen thuộc cho phép chuyển nhanh chóng giữa chế độ thiết đặt, thu thập dữ liệu và chế độ ghi.

​Các ứng dụng quan trọng của máy siêu âm

Đo chiều dày các chi tiết kim loại bằng phương pháp siêu âm
Kiểm tra khuyết tật sản phẩm đúc bằng máy siêu âm
Kiểm tra lượng tạp chất grafit trong sản phẩm gang, thép đúc
Thông số kỹ thuật VEO
Bộ phát xung
  • Cấu hình: 16:64 (16 kênh phát/thu; điều khiển lên tới 64 biến tử)
  • Chế độ kiểm tra: Phản xạ và truyền qua
  • Cổng cắm đầu dò: I-PEX
  • Điện thế xung phát: -50 đến -150 V (theo bước 10V)
  • Dạng xung: Xung âm dạng vuông (với ActiveEdge)
  • Độ rộng xung: 10 ns tới 500 ns
  • Thời gian Edge: <10ns trong tải 50 Ohm
  • Trở kháng đầu ra: <16 Ohm
  • Đồng bộ hóa bộ ghi: Mã hóa vị trí hoặc tự do (theo cơ sở thời gian)
  • Dải trễ hội tụ Tx/Rx: 0 – 10 µs (độ phân giải 2.5 ns)
 Bộ thu
  • Dải tăng âm: 0 – 80 dB, bước chỉnh 0.5 dB
  • Trở kháng đầu vào: 50 Ohm
  • Dải tần: 300 KHz – 30 MHz (-3dB)
Ghi dữ liệu
  • Cấu trúc: Cấu trúc trễ và tổng đầy đủ
  • Tốc độ lấy mẫu: 50/100 MSPS
  • Độ phân giải ADC: 12 bit/mẫu
  • Độ rộng mẫu dữ liệu: 16 bit/mẫu
  • Ghi dữ liệu: Các dữ liệu thô được lưu đầy đủ
  • Chiều dài A-Scan tối đa: 8192 mẫu (32 m trong thép LW, tốc độ lấy mẫu 50 MSPS, lấy mẫu phụ 1:128)
  • Tần số xung lặp lại tối đa: 20 KHz
  • Số lượng luật hội tụ: Lên tới 1024
  • Kiểu hội tụ: Hội tụ theo độ sâu không đổi, theo đường truyền âm không đổi, độ lệch dọc không đổi
  • Xử lý: Làm nhẵn, trung bình, chia tỷ lệ, giữ cực đại
  • Bộ lọc: Đa băng tần dải hẹp và dải rộng
  • Lấy mẫu phụ:  1:1 tới 1:128
  • Chỉnh lưu: RF, toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm
  • Đồng bộ hóa: Được tham chiếu trên xung ban đầu hoặc cổng, hỗ trợ IFT
  • Chế độ quét: Đa phép quét S/L-Scan và 01 ToFD
Quét và hiển thị
  • Các phép quét hỗ trợ: S-Scan và L-Scan
  • Hiển thị thời gian thực: S, L, B, C-Scan, Top và End-View
  • Bảng màu hiển thị: Cầu vồng, thang xám và phổ màu.
Con trỏ
  • Kiểu: Vuông góc theo hệ tọa độ Đề Các, hộp 2D, góc
  • Đo: Chiều dài truyền âm, độ sâu, khoảng cách bề mặt, đỉnh góc trong hộp 2D và hộp góc 2D

SIÊU ÂM TRUYỀN THỐNG/NHIỄU XẠ TOFD (Các kênh biến tử đơn)

Bộ phát xung
  • Số kênh: 2 TX/RX (2 kênh đa thành phần); 2 RX
  • Chế độ kiểm tra: Phản xạ, truyền qua và TOFD
  • Kiểu kết nối: BNC hoặc LEMO 1 (tùy chọn)
  • Điện thế xung: -400 V (có thể điều chỉnh từ  -100 V tới -400 V theo bước 10V)
  • Dạng xung: Xung âm dạng vuông (với ActiveEdge)
  • Độ rộng xung: Có thể điều chỉnh từ 25 ns tới 2000 ns, độ phân giải 2.5 ns
  • Edge time: <20 ns trong tải 50 Ohm
  • Trở kháng đầu ra: <10 Ohm
Bộ thu
  • Dải tăng âm: 110 dB (-30 dB tới 80 dB)
  • Trở kháng đầu vào: 400 Ohm
  • Bộ lọc băng thông: Băng hẹp có tần số trung tâm tại 0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz, 5 MHz, 10 MHz và 15 MHz. Dải rộng tại 1MHz tới 18 MHz (-6dB)
Thu nhận số liệu
  • Tốc độ lấy mẫu: 50/100/200 MSPS
  • Độ phân giải ADC: 10 bit/mẫu
  • Độ rộng mẫu dữ liệu: 16 bit/mẫu
  • Ghi dữ liệu: Các dữ liệu thô được lưu đầy đủ
  • Chiều dài A-Scan tối đa: 8192 mẫu
  • Tần số xung lặp lại PRF tối đa: 12 KHz
  • Xử lý: Làm nhẵn, lọc, giữ cực đại
  • Lấy mẫu phụ: 1:1 tới 1:128
  • Chỉnh lưu: RF, toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm
  • Đồng bộ hóa: Đầu vào kỹ thuật số mở rộng, bộ mã hóa hoặc bên trong.
Quét và hiển thị
  • Các phép quét được hỗ trợ: S-Scan
  • Hiển thị: A, B-Scan và TOFD
Con trỏ
  • Kiểu: Vuông góc theo hệ tọa độ Đề Các, Hyperbolic
  • Đo: Chiều dài truyền âm, độ sâu, khoảng cách bề mặt
SIÊU ÂM TRUYỀN THỐNG VÀ PHASED ARRAY DAC
  • Số điểm: 16
  • Số lượng đường DAC: 1 với 3 đường cong DAC phụ (trên mỗi luật hội tụ trong PA)
Tăng âm hiệu chỉnh theo thời gian TCG
  • Số điểm: 16
  • Dải tăng âm: 0-60 dB
  • Độ dốc tăng âm tối đa: > 50dB/µs
Cổng
  • Cổng A-Scan: 4 cổng trong A-scan (3 A-Scan được trích ra từ S/L-Scan)
  • Kích hoạt cổng: Sườn/đỉnh xung
  • S/L-Scan: 2 “cổng 2D” trong mỗi S/L-Scan
  • Đèn LED cảnh báo: 1 (đồng bộ hóa trên tất cả các cổng và DAC)
  • Tính năng đo trong hiển thị A-Scan: đỉnh xung, sườn xung, phản hồi tới phản hồi

THÔNG SỐ VẬT LÝ

Bộ lưu dữ liệu
  • Bên trong: 6GB (tiêu chuẩn)
  • Bên ngoài: USB 8GB có thể rút nóng (tiêu chuẩn)
  • Chỉ bị giới hạn bởi khả năng của khóa USB
  • Tốc độ truyền: Tới USB lên tới 23MB/giây ở chế độ ghi, 27MB/giây ở chế độ đọc
  • Kích thước têp dữ liệu: 2GB (hệ thống tệp FAT32)
  • Tốc độ quét điển hình: 10 đến 15 cm/giây
  • Chiều dài quét điển hình: >10m
Màn hiển thị
 
  • Kích thước: 25.9 cm (10.2 inch) màn hình rộng
  • Độ phân giải: 1024 x 600 pixel
  • Màu: 250K (65535 màu cho bảng màu quét)
  • Kiểu màn hình: TFT LCD
Các cổng I/O
  • Các cổng USB: 3 cổng USB (480 Mbps)
  • Ethernet: Gbit Ethernet (1000 Mbps)
  • Đầu ra Video: VGA tương tự (1024 x 600)
  • I/O
Mã hóa vị trí: Mã hóa 1 hoặc 2 trục vuông góc (kết nối LEMO)
  • Đầu dây đơn và đầu vào vi sai.
Pin và nguồn nuôi
  • Kiểu pin: Pin Li-Ion thông minh
  • Số lượng pin: 02
  • Hoạt động: 1 hoặc 2 pin, nguồn DC
  • Thay pin: Có thể trao đổi nóng – không yêu cầu dụng cụ hỗ trợ
  • Sạc pin: Sạc pin ở trong thiết bị, đang hoạt động hoặc không
  • Thời gian hoạt động: Liên tục trong 6+ giờ (hoạt động điển hình)
Thông số khác
  • Kích thước: Cao 220 mm x Rộng 335 mm x Dày 115 mm (8.66 in x 13.19 in x 4.52 in)
  • Trọng lượng: 5.28 kg (11.6 lb) với 01 pin; 5.75 kg (12.6 lb) với 02 pin
  • Nhiệt độ hoạt động: -10 ºC – +40 ºC (14 ºF – 104 ºF)
  • Nhiệt độ cất giữ: -25 ºC – +70 ºC (-13 ºF – 158 ºF)
  • Độ ẩm tương đối: 5 – 95 % RH
  • Cấp bảo vệ môi trường: Đạt IP 65
  • Bảo hành: 01 năm
  • Tiêu chuẩn hiệu chuẩn: EN 12668

Bộ VEO tiêu chuẩn  bao gồm:

  • Thiết bị chính VEO 16:64, VEO 16:128
  • Chứng chỉ hiệu chuẩn
  • Khóa truy xuất sử dụng UT Studio Single
  • USB Memory Stick (8GB)
  • 02 pin Lithium-Ion
  • Hướng dẫn sử dụng Anh/Việt
  • Tấm bảo vệ màn hình chống lóa
  • Va li vận chuyển

Tài liệu

Tên File Dung lượng